Navegando por Orientador Schmidt, Tome Mauro

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Data do documentoTítuloAutor(es)
27-Fev-2007Adsorção de bifenil na superfície de Si (001) por um método de primeiros princípiosLima, Claudio Pereira
2004Defeitos extensos em semicondutores: discordância parcial de 90°Arantes Junior, Jeverson Teodoro
19-Dez-2014Defeitos intrínsecos e impurezas em nanofios de InNSilva, Júlio César da
24-Fev-2017Estudo de efeito spin-orbita na adsorção de Bi em superfícies de Si(111)Oliveira, Caio Estevão de
30-Set-2019Estudo de interfaces entre isolantes topológicos e semicondutoresFreitas, Walter Andrade de
7-Mar-2006Estudo de vacâncias e falhas de empilhamento em ZnO WurtzitaFernandes, Marcelo
18-Dez-2014Estudo dos efeitos de confinamento quântico em semicondutores magnéticos e isolantes topológicosLima, Erika Nascimento
29-Ago-2012Estudo teórico de defeitos em nanoestruturas cristalinas de Nitreto de ÍndioSilva, Júlio César da
2-Set-2014Investigação dos estados topologicamente protegidos em siliceno e germanenoAraújo, Augusto de Lelis
17-Jul-2018Isolantes topológicos protegidos por simetria cristalinaAraújo, Augusto de Lelis
12-Jul-2018Isolantes Triviais e TopológicosSilva, Fernanda Ribeiro
1-Ago-2012Nanoestrutura de CdS: propriedades estruturais, eletrônicas e oxidaçãoCouto, Willian Reis Moura do
23-Jul-2021Propriedades eletrônicas e topológicas de isolantes topológicos com defeitos pontuaisLopes, Emmanuel Victor Caires
14-Nov-2014Propriedades eletrônicas, magnéticas e estruturais de materiais 2D nano-estruturadosFernandes, Marcelo