Navegando por Orientador Schmidt, Tome Mauro
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Data do documento | Título | Autor(es) |
27-Fev-2007 | Adsorção de bifenil na superfície de Si (001) por um método de primeiros princípios | Lima, Claudio Pereira |
2004 | Defeitos extensos em semicondutores: discordância parcial de 90° | Arantes Junior, Jeverson Teodoro |
19-Dez-2014 | Defeitos intrínsecos e impurezas em nanofios de InN | Silva, Júlio César da |
24-Fev-2017 | Estudo de efeito spin-orbita na adsorção de Bi em superfícies de Si(111) | Oliveira, Caio Estevão de |
30-Set-2019 | Estudo de interfaces entre isolantes topológicos e semicondutores | Freitas, Walter Andrade de |
7-Mar-2006 | Estudo de vacâncias e falhas de empilhamento em ZnO
Wurtzita | Fernandes, Marcelo |
18-Dez-2014 | Estudo dos efeitos de confinamento quântico em semicondutores
magnéticos e isolantes topológicos | Lima, Erika Nascimento |
29-Ago-2012 | Estudo teórico de defeitos em nanoestruturas cristalinas de Nitreto de Índio | Silva, Júlio César da |
2-Set-2014 | Investigação dos estados topologicamente protegidos em siliceno e germaneno | Araújo, Augusto de Lelis |
17-Jul-2018 | Isolantes topológicos protegidos por simetria cristalina | Araújo, Augusto de Lelis |
12-Jul-2018 | Isolantes Triviais e Topológicos | Silva, Fernanda Ribeiro |
1-Ago-2012 | Nanoestrutura de CdS: propriedades estruturais, eletrônicas e
oxidação | Couto, Willian Reis Moura do |
23-Jul-2021 | Propriedades eletrônicas e topológicas de isolantes topológicos com defeitos pontuais | Lopes, Emmanuel Victor Caires |
14-Nov-2014 | Propriedades eletrônicas, magnéticas e estruturais
de materiais 2D nano-estruturados | Fernandes, Marcelo |